| 使用一种装置用于测量所述正常的晶粒边界在一个传输电子显微镜测角仪和所述的方法用于测量所述正常的晶粒边界 |
| KR1020080073829 2008-7-29 发明申请 |
| 2010-2-19 |
| 目的 : 一种晶粒边界中的正常矢量及其测量装置和方法的正常矢量的测量系统一晶粒边界利用一个传输电子显微镜所述的测角仪用于该晶粒边界被紧密地检查所述的性能提供给所述小误差测量所述晶粒边界处的正常矢量范围内。<\/P> 构成 : 一安装一传输电子显微镜测角仪。一个第一测量单元解释所述倾斜轴的关系的一种晶体轴(24)和一个样本作为所述通过使用测角仪的线性代数。第一测量单元紧密地检查所述所述晶粒边界的所述样品的性能。一个正常矢量垂直于所述晶粒边界所述样品的样品通过所述的旋转矩阵和倾斜第二侧的正和负使用该晶粒边界的性能。<\/P> 版权kipo2010<\/P> |
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