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产业专利数据

基于体扫描近场显微镜的纳米尺度光学层析成像

US12405449 2009-3-17 发明申请

2010-2-18

一种用于基于具有探针的体积扫描的背散射模式近场扫描光学显微镜的纳米级光学层析成像的设备和方法。通过探头的体积扫描收集的后向散射数据包含样品的三维结构信息，这使得能够在不需要仪器的其它机械运动的情况下重构电介质样品。