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扫描探针显微镜用探针

US12248652 2008-10-9 发明申请

2010-2-11

本发明公开了用于扫描探针显微镜的探针，包括半导体异质结构和制造探针的方法。半导体异质结构决定探针的光学性质，并允许具有纳米分辨率的光学成像。