| 测量该取向的装置使用一个gonimeter相邻晶粒之间的关系在一个传输电子显微镜和方法用于揭示所述晶粒边界的特性 |
| EP08021545 2008-12-11 发明申请 |
| 2010-1-27 |
| 一种装置和方法用于测量所述结晶取向的晶粒边界相邻的颗粒和所述的特性关系使用一个公开了一种传输电子的显微镜测角仪以检查所述两个晶体取向之间的关系和所述特性晶粒边界的与真实时间中的一个小误差。一种装置用于测量所述取向晶粒边界的相邻晶粒之间的关系和所述特性，通过使用一种一传输电子的测角仪立体镜，该装置包括一个安装在一个传输电子显微镜测角仪和测量单元，用于一试样的晶粒边界的泄露所述特性的线性代数解释所述晶体轴之间的关系和该样品使用所述的倾斜轴测角仪。 |
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