| 超分辨率显微镜和空间调制的光学元件在其中使用 |
| JP2008175678 2008-7-4 发明申请 |
| 2010-1-21 |
| 要解决的问题 : 以提供一种超分辨率显微镜用于执行相位调制的光量而不引起的损耗擦除光和诱导一种明显的超分辨率功能与绝对最小擦除的光功率。溶液 : 所述的超分辨率显微镜包括 : 一光源部20，其发射第一中的照明光，其允许物质一个样品63发射的光激发它从一个稳定状态到一个第一的量子状态和第二的照明抑制这种光发射的光通过允许所述物质转移到另一量子状态进一步以部分空间它们彼此重叠; 一种照明光学系统，其包括一个显微镜物镜62聚光和第第一照明光照射和所述第二照明光从该光源部20所述样品上的63; 一个检测部分50，其检测一从所述样品发出的光响应信号63通过与第一照射照明光和第二的照明光; 和一空间调制光元件1，其被设置在所述光学系统的光学路径包括该显微镜物镜62，具有调制区域3用于空间调制部分第二的照明光，以及允许所述显微镜物镜62以该样品63，使得第一上的冷凝所述光的照明光可以具有一最大值和第二的照明光可以具有一个最小值。版权 : (C)2010，inpit |
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