| 光学元件的制造方法，记录和/或再现装置以及光学显微镜 |
| JP2003374676 2003-11-4 发明授权 |
| 2009-11-25 |
| 本发明的课题是，检测比以往的光学系统中聚光的光束的光斑更微小的标记，并且不受探头的磨损的影响，实现高分辨率的检测。 [P]溶液： 该光学元件具备透镜体，该透镜体是将第1透镜元件和第2透镜元件以接合面对接的状态接合而成的，且与接合面正交的面与第1透镜元件和第2透镜元件的接合面正交。 5a被设定为聚光光束的出射面2a， 探头设置在第1透镜元件和第2透镜元件之间，其与透镜体的表面相对的前端部小于聚光在第1透镜元件和第2透镜元件的表面上的光点。 所述透镜本体2。 版权 : (C)2006，JPO&NCIPI |
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