| 显微镜和用于显微镜检查的方法 |
| DE102021134427 2021-12-22 发明申请 |
| 2023-6-22 |
| 本发明涉及一种显微镜，所述显微镜具有照明光路，所述照明光路至少具有照明控制装置和照明透镜，所述照明透镜用于利用激发光来照明、尤其是线性地照明和扫描样本，所述显微镜具有检测光路，所述检测光路至少具有显微镜物镜，所述显微镜物镜用于将由样本发射的发射光引导向照相机，所述照相机用于拍摄样本的图像，并且所述显微镜具有控制单元，所述控制单元用于至少控制照明控制装置和照相机， 其中，所述控制单元被设置用于使所述相机的传感器表面的待读出的区域中的每个区域与由所述照明控制装置限定的所述激发光的位置同步，根据本发明，所述显微镜的特征在于，在所述检测光路中存在用于将所述发射光分成多个分光路的图像分光器单元，所述分光路中的每个分光路用于在所述相机的所述传感器表面上生成所述样本的分图像， 其中，所述传感器表面上的所述部分图像彼此相邻，使得所述部分图像中对应于由所述照明控制设备限定的所述样本上或样本中的所述激发光的位置的线性区域位于所述传感器表面的同一条线或多条线上。 本发明还包括用于显微术的方法。 |
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