原子力显微镜的针尖的检查方法及半导体装置的制造方法
 
US17878414  2022-8-1  发明申请

2023-6-22
 
  提供了一种操作原子力显微镜(AFM)的方法。 该方法包括通过使用AFM检查样品和通过使用表征样品检查AFM的探针的尖端。 表征样品包括包含第一高度的线和间隔图案的第一表征图案、包含低于第一高度的第二高度的线和间隔图案的第二表征图案、以及包含低于第二高度的第三高度的线和间隔图案的第三表征图案,并且包括粗糙表面。
 
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