基于光学检测磁共振的自旋显微镜
 
US11845931  2007-8-28  发明授权

2009-10-27
 
  本发明涉及一种扫描磁性显微镜,其具有植入在原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)或近场扫描光学显微镜(NSOM)的尖端中的光致发光纳米探针,并且在样品材料中未配对的电子自旋或核磁矩附近呈现光学检测磁共振(ODMR)。 所描述的自旋显微镜已经证明了AFM和STM实施例的纳米级横向分辨率和单自旋灵敏度。
 
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