| 一种超快光电显微镜的方法和系统 |
| US12234567 2008-9-19 发明申请 |
| 2009-9-24 |
| 一种用于表征一个或多个样品超快系统(和方法)。 该系统包括具有待表征样品的台组件。 该系统具有能够发射持续时间小于1ps的光脉冲的激光源。 该系统具有耦合到激光源的阴极。 在特定实施例中，阴极能够发射持续时间小于1ps的电子脉冲。 该系统具有适于将电子脉冲聚焦到设置在平台上的样品上的电子透镜组件。 该系统具有适于捕获通过样品的一个或多个电子的检测器。 通过样品的一个或多个电子代表样品的结构。 检测器提供与通过样品的一个或多个电子相关联的表示样品结构的信号(例如，数据信号)。 该系统具有耦合到检测器的处理器。 处理器适于处理与通过样品的一个或多个电子相关联的数据信号，以输出与样品的结构相关联的信息。 该系统具有耦合到处理器的输出设备。 所述输出装置适于输出与所述样本的结构相关联的信息。 |
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