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产业专利数据

扫描探针显微镜观察的样品和方法使用该相同

WOJP08073074 2008-12-18 发明申请

2009-9-11

所述的光学数据和所述的表面上的峰-谷数据一被测样品在一种纳米-阶的分辨率和一高再现性，同时损坏既没有结合一种纳米探针的NOR所述样品阶圆柱形结构具有一纳米阶微结构以形成一等离子体增强近场探针具有一纳米阶的光学分辨率和重复地移动它靠近和离开从每个所述样品上测量点在一个低的接触力。