荧光显微镜
 
US12088139  2006-10-3  发明申请

2009-9-10
 
  本发明提供了一种荧光显微镜和使用该荧光显微镜测量荧光的方法。 该显微镜包括高度平面且不发荧光的硅片过滤膜。 此外,它具有非常高的穿孔密度,因此小的表面积就足以进行有效的测量。 此外,使用照相机作为位置敏感检测器使得可以利用更好的光学分辨率,这意味着可以使用具有更小数值孔径和更小放大率的光学器件,具有更大的工作距离。 所有这些因素共同提供了一种荧光显微镜,它能够比现有的荧光显微镜更快地进行测量。
 
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