| 扫描探针显微镜装置的操作方法，包括改变负载条件的测量的测量探针的探头部分，同时加载或分离测量探头部分与或从特定的探针物质，分别 |
| DE102008007707 2008-2-4 发明申请 |
| 2009-8-27 |
| 本发明是指一种过程用于一种光栅的探针显微镜所述操作机构，与其中一个加载条件一测量探针的部分的一测量探针被改变，作为应用下的力的梯度场所述测量探针的周围的场部分中形成一个单独的探针物质的所述测量探针上的部分与该单独的加载探针物质或所述单独的探针物质是从所述测量探针分离部分。还一光栅探针显微镜机构是预期的。 |
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