| 扫描探针显微镜 |
| JP2008014558 2008-1-25 发明申请 |
| 2009-8-6 |
| 要解决的问题 : 以制造一个扫描探针显微镜，其s\/N是不易到后级中产生的噪声一当所产生的噪声光电二极管的所述的后级中的所述光电二极管产生的噪声是相对较大的比在一前级的所述光电二极管。溶液 : 所述扫描探针显微镜具有一个雪崩光电二极管，其功能乘以所述量的电流，一旦应用的一反向偏置电压，根据所施加电压的大小作为一个光接收元件，和确定一个所述的最佳值的反向偏置电压施加到所述的雪崩光电二极管，在所述时间测量振动的一个悬臂通过在预先测量所反射的光的强度由施加一个反向偏压电压，其被设置，从而使所述的倍增比所述雪崩光电二极管是1，和计算，基于所述强度的测量结果; 所述倍增比在其所述所述检测器的s\/N是最大。版权 : (C)2009，inpit |
微信公众号