产业专利数据
 
用于塞贝克效应(热电材料的电子显微镜的样品架)分析
 
JP2008012719  2008-1-23  发明申请
2009-8-6
 
  要解决的问题 : 以提供一个装置能评估纳米级的热电材料组织和热电特性在所述同时，使用所述相同的观察一种热电材料的一种方法，通过产生一个热电效果在一个电子显微镜，和一个随后的磁场可视化。溶液 : 所述样品架用于一个传输电子显微镜能够磁场的分析可以施加热斜率在原位。版权 : (C)2009，inpit
 
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