| 用于分析样品的相位对比显微镜，具有光学单元产生的再现光束从光路径，和光学元件的连接与控制电路用于样品的观察期间改变光的相位 |
| DE102007058558 2007-12-5 发明申请 |
| 2009-6-25 |
| 本发明指的是一种phasenkontrastmikroskop，基本上全面的 : 一种源的光(6)，一个样品，其可以被观察到(9); 光学装置用于生产一个设置在所述样品(9)的光的照明光束的路径从所述源(6)进入光，光学装置用于生产一个图像的束路径(12)从所述的样品(9)发送; 反射或strewn光，一接收机构，向其中该图像光束路径(12)被引导，和一个为所述图像光束路径(12)设置所述的光学装置，用于所述变化相位的所述的光。根据本发明所述的装置，用于所述改变所述所述光点的一第一相位的光学元件在所述相位与一用于所述改变的结构的所述第N个所述的光的衍射阶，与N的一整个数量，以及作为第第二光学元件(2)与一结构用于所述相位的变化所述0-十个衍射的顺序的所述的光，由此至少第二的光学元件(2)与一控制电路(3)用于该期间所述的光的相位的变化所观测的样品(9)是连接。 |
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