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显微镜探针尖端的官能化

WOIB08002466 2008-6-25 检索报告

2009-6-4

本发明包括一种官能化的方法扫描探针显微镜(SPM)的尖端到的图像和\/或测量表面之间的相互作用，包括该表面的无机，有机-无机杂化，有机，磁性\/导电性，硬涂层和生物材料。本发明进一步包括使用原子层沉积(ALD)官能化的SPM针尖。