| 电光型偏振谱测量显微镜 |
| CN200810163435.2 2008-12-22 发明申请 |
| 2009-5-13 |
| 本发明公开了一种电光型偏振谱测量显微镜。它基于普通光学显微镜结构， 并添加了固定线偏振片、固定电光旋光器以及一系列光学器件组合而成。入射 光首先通过固定偏振片，同时使固定线偏振片的透振角度固定不变，然后此线 偏振光通过固定电光旋光器，通过对固定电光旋光器施加某一预期强度的电场 或磁场，使线偏振光的偏振角度有相应改变，出射线偏振光通过载物台上的待 观测样品，透过样品或在样品表面反射后的偏振光通过检偏器，由电荷耦合器 件CCD采集光强信息，最终将偏振信息存储并显示出来。由于不同样品对偏振 光的作用不同，所以通过待测样品之后的线偏光会呈现出不同的偏振光学特性。 通过信息处理技术提取相关偏振谱线，就可以分析待测样品的各种光学特性。 |
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