| 基于原子力显微镜的精确定位方法 |
| CN200810197696.6 2008-11-19 发明申请 |
| 2009-4-22 |
| 本发明公开了一种原子力显微镜的精确定位的方法，该方法先通过相差光学 显微镜找到待测样品，在相差光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上 方，记录样品所在的区域，利用吸附力将薄片吸到样品的基底上，然后将吸附了 薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜载物台上，用原子力显微镜扫描具有网 格的薄片，逐级缩小扫描范围，将原子力显微镜的探针定位在待测样品对应格子 的上方，最后用洗耳球将薄片轻轻吹开，即可下针进行准确的原子力显微镜的观 察。本发明操作简单，无需制作任何外用器材，非常快捷地精确定位待扫描的样 品。 |
微信公众号