| 扫描探针显微镜和测量方法。 |
| JP2007265936 2007-9-10 发明申请 |
| 2009-4-2 |
| 要解决的问题 : 以解决该问题，即该传统的用于测量该磁场倾斜扫描探针显微镜是难以同时检测所述表面的不均匀性和一个磁具有高空间分辨率和图像还所述方向一磁梯度的用于测量仅是一个，并且它是不容易改变。溶液 : 一种方法用于测量该样品的表面通过所述样品上扫描，同时激发的振动所述探头，其中所述改变振动频率的所述暂态时间内从一个静止状态在一个测量点到另一测量点，所述样品和探索之间的力梯度是由一个图像。版权 : (C)2009，inpit |
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