真空紫外冷冻电镜栅格筛选工具
 
US18114103  2023-2-24  发明申请

2024-1-11
 
  描述了一种在两种配置中使用真空紫外(VUV)照明来筛选低温电子显微镜(低温EM)样品网格的筛选工具和方法。 第一种配置基本上使用明场光学显微镜直接成像冷冻EM网格,但采用VUV波长和专用VUV光学器件。 第二配置利用定位成非常接近栅格的闪烁体将来自低温EM栅格的透射VUV辐射转换成可见光或近UV光。 使用更常规的显微镜光学器件观察得到的发光高分辨率阴影图像。 在两种配置中,单独的微米级栅格孔的成像可以从超薄玻璃化水层的光学吸收以几纳米的精度来确定冰的厚度和质量。 较长的波长可以用于独立地查看冰层内的蛋白质浓度和分布。 这种筛选工具大大提高了冷冻EM分析前高质量网格的产量,并且与单粒子分析(SPA)和包括冷冻电子断层摄影(冷冻ET)和微晶电子衍射(MicroED)的其它冷冻EM方法兼容。
 
仿站