| 用于自干涉荧光显微镜系统和方法以及与之相关联的计算机可访问介质 |
| US12201816 2008-8-29 发明申请 |
| 2009-3-5 |
| 可以提供示例性装置和/或方法，使用该装置和/或方法可以提供与样本的至少一部分相关联的信息。 例如，从样品的至少一部分接收的至少一个电磁辐射可以被分离成多个第一辐射，第一辐射中的一个具有不同于第一辐射中的另一个的相位延迟的相位延迟。 此外，至少一个第一辐射可根据所接收的至少一个第一辐射的波长而被接收并分离成第二辐射。 此外，可以检测第二辐射，并且根据第一辐射的至少一个干涉的至少一个特性生成关于样本的至少一部分的位置的信息。 根据另一示例性实施例，可以提供系统、方法和计算机可访问介质，其中可以获得与第一辐射相关联的数据，并且可以生成关于样本的至少一部分的位置的信息。 通过根据至少一个第二辐射的波长分离与样品的(多个)部分相关联的第二辐射，可以基于数据生成这样的信息。 例如，第二辐射中的一个可以具有不同于第二辐射中的另一个的相位延迟的相位延迟，并且第二辐射可以是干扰的。 |
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