| 方法和系统用于标准化显微镜仪器 |
| WOUS08007399 2008-6-13 发明申请 |
| 2008-12-24 |
| 方法和装置，用于从一个标准化的定量测量显微镜系统。该过程包括一个校准的校准过程，由此图像获得的滑动是通过所述的光学所述的显微镜系统。该校准滑动产生一个标准的响应，其可以被用来确定一个机的本征因子用于所述特定的系统。该机的本征因素可以存储用于稍后参考。使用中，一个目标的图像被获取的样品和所述激励光的源。该激励光源获得的样品是使用一种校准仪器配置到样品的强度。该校准仪器具有一个相关联的校正因子以补偿其性能以一种通用的标准化校准仪。该机的本征因素，采样强度，和校准仪器校正因子是可用以补偿的定量测量所述目标中的样品，以便归一化所述用于比较的结果与其它显微镜系统。 |
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