| 分析方法的膜-电极组件使用扫描电子显微镜 |
| KR1020070049999 2007-5-23 发明申请 |
| 2008-11-27 |
| 目的 : 一种分析所述膜电极组件使用所述的方法扫描电子显微镜被提供给执行该结构和部分所述膜电极组件的准确的分析。<\/P> 构成 : 分析所述膜电极组件使用所述的方法扫描电子显微镜所述样品的集合包括所述的步骤通过使用所述锯切机，该步骤用于切割所述该状态中，收集样品，其通过使用所述的冷却液体氮，该步骤用于涂覆导电金属使用该试样切割所述涂布设备在所述的表面，该步骤用于分析该样品，其是保持在该空间与外部空气阻塞通过使用扫描电子显微镜。<\/P> kipo2009<\/P> |
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