| 扫描探针显微镜 |
| RU2008116294 2008-4-28 实用新型 |
| 2008-11-27 |
| [otnosits是有用的所述模型]到所述区域的所述扫描探针显微术，它可以被用于在该所研究的点的所述的表层的所述反射表面，例如，晶体学方法之前，所述的计量，在所述rnykh的研究[vysokomolekul][]的连接和等是有用的所述模型[pozvol]的[ET]的[dobits]的所述增加informativeness，所述工作之前，简单和方便与所述扫描探针显微镜([szm])，因为已知的[szm]之前，它包括所述的系统[videonablyudeni]，样品架，扫描仪和探针，显微镜另外包含，固定与所述姿态感测的可能性，源的所述光通量，反射元件和光学分割元件的两个通过，该光通量和反射的所述部分; 其从所述源; 此外样品架是位于所述的光的流动超过一个的所述的方式，反射或传递由分割元件，和光反射元件在所述的方式第二的流动，因此，使得所述的运动所述光束，基于所述的表面上反射的反射元件和[derzhatel]的模型的表面或表面的所述放置下它调查下的样品，将用于为了一致的所述入射在它们的运动光通量，和进一步[otrazheni后一个从所述分割元件反射的光通量的]和[prokhozhdeni]的第二反射的光通量通过所述分割元件的每个它们是指向下所述的系统的[videonablyudeni]。被建议的5装置的不同变体[szm]。 |
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