| 碳纳米管用于扫描探针显微镜的悬臂和制造所述的方法相同，和扫描探针显微镜 |
| JP2007119201 2007-4-27 发明申请 |
| 2008-11-13 |
| 要解决的问题 : 接近样品表面的不均匀性和在高分辨率测量表面状态通过解决这种作为破坏的问题，一个基座的变形探针，一接合部分的破坏，造成失真和所述的滑移碳纳米管探针，其导致问题观察该样品中使用的CNT表面与一个扫描探针显微镜悬臂。溶液 : 在一悬臂用于一种扫描探针显微镜测量表面状态与一碳纳米管探针结合到一种基座探针，所述基座的该尖端部的探针是非锐化。此外，当所述悬臂被设置在测量状态，所述非锐化的所述基座的探头尖端部是设置更接近所述接合到所述样品表面比所述的尖端部。与这种布置，所述碳纳米管探针时，由于失真或滑移，与所述样品表面发生碰撞，破坏及所述基座的该尖端部的变形探针可以防止接合部分和所述的尖端部到提供所述碳纳米管用于一个扫描探针显微镜悬臂具有高耐久性。版权 : (C)2009，inpit |
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