| 微光刻和荧光显微镜中的超分辨率 |
| US12146785 2008-6-26 发明申请 |
| 2008-10-23 |
| 在诸如共焦激光显微镜的扫描光学系统中,光束被聚焦到样品中的斑点以激发斑点中的荧光物质或其它可激发物质, 通过提供适合于抑制可激发物质的激发的波长光束,使激发的有效尺寸小于光斑的尺寸, 将该第二光束整形为具有中心强度最小值的图案,并将该中心强度最小值与聚焦光斑的中心强度最大值重叠,使得在光斑内,淬灭光的强度随着距离光斑中心的距离而增加,从而优先淬灭光斑外围部分中的激发,从而减小激发的有效尺寸,从而提高系统的分辨率。 在本发明的优选实施例中, 淬火光的中心最小值通过在焦平面上成像多对淬火光源而在样品中产生淬火辐射图案而进一步变窄,所述多对淬火光源排列在正多边形的顶点处,所述正多边形的中心在激励辐射的中心最大值上成像在样品中,并且使得每对淬火光源的两个成员在多边形的相反顶点上并且发射彼此相干和异相的光,并且由不同对发射的光彼此不相干。 |