亚波长分辨率光学显微镜
 
US12082824  2008-4-15  发明申请

2008-10-16
 
  本发明提供了用于以三维和高分辨率成像亚波长结构的方法。 所述方法包括用光的照射波长照射亚波长结构,并在远离所述结构的距离处检测由此产生的自图像。 本发明还提供了一种用于将传输光限制在亚衍射极限尺寸的方法,该方法通过用相干光的波长照射具有亚波长特征的金属结构的表面,使得从所述特征传播的光被限制在其亚衍射极限尺寸。
 
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