| 校准标准用于所述profilometers和所述扫描探针显微镜 |
| RU2007111324 2007-3-28 发明申请 |
| 2008-10-10 |
| 领域 : 物理学。接收机 : 本发明可用于校准profilometres和扫描探针显微镜。主使得可以直接进行测量之前校准过程和测量过程中，当样品装入profilometre或扫描探针显微镜检查。可校准profilometres主机和扫描探针显微镜中，它包括板，板由极化的压电材料，与电极连接到板的相对两侧，与电极电连接到源极电压具有恒定幅度和极性。本发明 : 本发明可发展成为可能，校准主耐主表面磨损的方法，降解，氧化及污染，耐多表面的清洁，而且以主应用在亚纳米范围的面积测量。^2 |
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