| 一种受激发射损耗超分辨显微镜、设计方法、系统及介质 |
| CN202310287288.4 2023-3-23 发明申请 |
| 2023-4-21 |
| 本申请公开了一种受激发射损耗超分辨显微镜、设计方法、系统及介质，涉及显微镜技术领域。该显微镜中，激发光束和损耗光束在传输的过程中始终属于同一光束，即实现了激发光束的光斑与损耗光束的光斑的精确对准，得到了适用于STED显微镜的光束；去除了传统STED显微系统中的合束过程，使得不易受环境的影响而导致分辨率下降，极大地提升了STED显微镜系统的稳定性，降低了系统的成本和光学复杂性，增强了STED显微镜系统的集成能力，增加了STED显微镜系统的适用范围；此外，通过第一光栅将光源发出的多波长光束在空间上进行分离，使得通过光阑上的微孔较准确地得到STED显微镜工作所需的激发光束和损耗光束。 |
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