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产业专利数据

透射电子显微镜

US12010702 2008-1-29 发明申请

2008-9-4

以小于10nm的高分辨率分析蛋白质等分子结构中的手性分布和磁畴结构。用装有自旋极化电子源的透射电子显微镜进行全息观察。在全息测量中，由于样品中手征结构或磁化的存在，透射自旋极化电子的相位发生了变化。