| 扫描激光显微镜 |
| EP08001661 2008-1-29 发明申请 |
| 2008-8-6 |
| 本发明提供一种扫描激光显微镜(1)包括一个第一激光光源(2)用于发射超短脉冲激光的光; 一个扫描单元(7)用于二维扫描所述超短脉冲激光的光在一个样品(A); 第第二激光光源(3)用于发光的连续激光的光; 照射位置调整单元(8)，用于执行两个三维调节所述的连续激光的照射位置的光在该样品(A); 一物镜透镜(10)用于聚焦该超短脉冲激光的光和所述的连续激光的光到所述样品该样品(A)中的(A)和用于收集产生的荧光; 一个光检测单元(12)用于检测所述荧光，它被分断从所述物镜之间光路透镜(10)和所述扫描单元(8); 和一个连续激光的光开关单元(5)用于允许所述的连续激光的辐射光，当所述光检测单元是不需要的荧光检测所述的基础上从所述样品(A)所述超短脉冲激光的光。 |
微信公众号