基于光学检测磁共振的自旋显微镜
 
US11846081  2007-8-28  发明申请

2008-7-24
 
  本发明涉及一种扫描磁性显微镜,其具有植入到原子力显微镜(AFM),扫描隧道显微镜(STM)或近场扫描光学显微镜(NSOM)的尖端中的光致发光纳米探针,并且在样品材料中受损的电子自旋或核磁共振矩附近表现出光学检测的磁共振(ODMR)。 所述自旋显微镜显示了AFM和STM实施例的纳米级横向分辨率和单一自旋敏感性。
 
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