| 原子力显微镜和交互式力测量方法利用原子力显微镜 |
| WOJP08000001 2008-1-7 发明申请 |
| 2008-7-24 |
| 一个频率偏移Δf获得从该FM-AFM可以通过一个简单的线性组合表示一个组件ΔFLR得到的从一个长的距离互动力和一部件从一个短的距离Δ得到的FSR互动力。因此,一个Δf曲线的一个原子上一样品表面上的缺陷和一个Δf曲线在一目标原子缺陷被测量的相对短的距离范围中(S1,S2),分别,和它们之间的差Δf曲线是所寻求的。由于该差Δf曲线仅结果从所述短互动力,公知的转换处理是施加到这种力之间的关系表示的一个fcurvetoseek和一个距离Z,并从那里该短的距离所述目标原子上被获得的互动力(S4)。由于一距离的区域是由所述Δf曲线窄在所述的测量,测量时间可以被缩短。由于只有一个从所述Δf曲线转换到所述F曲线是足够的,用于完成,操作时间也可以缩短。因此,当一短的距离之间的互动力一样品表面上的一个原子和一个探针是寻求; 用于所述测量的Δf曲线所需的时间和操作可以被缩短,所述精度,也可以提高; 和进一步的吞吐量能够被提高。 |