产业集群信息网

产业专利数据

透射电子显微镜中信息传递极限的测定方法及使用该方法的透射电子显微镜

US11976719 2007-10-26 发明申请

2008-5-1

采用晶体薄膜作为样品进行测量。在衍射波和其它波相互干涉的情况下，测量晶格条纹对比度的变化。因此，可以定量地测量透射电子显微镜的信息传递极限。由于测量是在干涉受限的条件下进行的，因此可以定量地评估透射电子显微镜的信息传递极限。