| 用于定位或跟踪样品中的发射体的方法、光学显微镜和计算机程序 |
| DE102022119332 2022-8-2 发明授权 |
| 2023-12-28 |
| 本发明涉及一种用于定位或跟踪样品中的发射器的方法，包括以下步骤：用照射光照射样品； 基于检测到的光发射，确定在第一区域中除了第一发射器之外是否还存在至少一个第二发射器； 执行照射序列，其中利用具有局部最小值和至少一个最大值的强度分布照射所述样品，其中针对所述各个照射步骤检测所述第一发射器的光发射； 以及基于检测到的光发射确定第一发射器的位置，其中根据是否已经确定至少一个第二发射器位于第一区域中来调整或限定照明序列，或者其中在确定第一发射器的位置时考虑至少一个第二发射器的估计位置。 本发明还涉及一种光学显微镜和一种用于执行该方法的计算机程序。 |
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