| 激光扫描显微镜和激光扫描vaguelymikroskopierverfahren用于所述的测量反射照明辐射 |
| DE102006046109 2006-9-28 发明申请 |
| 2008-4-3 |
| 用于vaguely所述的测量反射的激光扫描显微镜照明辐射，具有一检测器，检测光线的路径(DS)其中从所述对象到所述检测器，其可以被检查，运行，一个在一个链接位置在所述检测(ds)的光线的路径设置分束器，其中所述检测光线的路径将所述的横截面(DS)所述连接位置成第一和第二的范围内，一个用于所生产的照明辐射的激光，其被链接在该分束器所检测的路径成第一部分的光线，从所述链接的地方运行以所述对象，和LED到所述对象上，由此仅照明辐射所述符合第一范围内被链接为所述检测通过所述物体反射的光线的路径(DS)和bleuchtungsstrahlung，沿所述的检测的路径光线(ds)建立到所述分束器，仅该部分的运行所检测的路径成第二部分光线(DS)运行从所述光束分路器到所述检测器，被链接，其符合第二范围内，为了检测所述vaguely所述的反射部分反射的照明辐射。 |
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