| 电场矢量测量装置和方法，和显微镜包括所述装置 |
| KR1020060130091 2006-12-19 发明授权 |
| 2008-2-22 |
| 目的 : 一种装置和方法用于测量一个电场矢量，和一个显微镜包括该装置被提供以精确地测量和研究产生的光从一量子点的特性和一种荧光材料和之间的交互该量子点和所述荧光材料，构成 : 一个装置用于测量一个电场矢量包括一个无孔探头(92); 一个物镜(93)，一个光学虹膜(94)，一偏光板(95)，第第一光束分离部件(96); 一种第二光束分离部件(97)，和一个电场矢量获取单元(99)。第一分束构件将第一分割光从入射光。第二束分割部件分割一个第二分割光从光穿过样品(90)，所述无孔的探针，所述对象的透镜，所述的光学虹膜，和所述偏振板一个由一。所述对象的透镜第一和第二分割光测量的干扰特性。所述对象的透镜确定一第一和第二分割光之间的相对相位的差值。kipo2008 |
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