| 用于使用原子力显微镜的方法 |
| WOES06070096 2006-7-4 发明申请 |
| 2008-1-10 |
| 本发明涉及一种使用原子力显微镜的方法。该方法包括 : 激发下和上固有振动模式的microlever(M)配置在样品；分析变量中的变化的第一输出信号(aicos(ω-φI))代表的响应该microlever(M)激励下的方式相对于由参数中的变化的影响可变的第二输出信号(JT ajcos(ω-φj))表示所述microlever(M)激励的响应所述上模，和/或分析变量中的变化的第二输出信号(JT ajcos(ω-φj))代表的响应该microlever(M)上的激发方式与相对于所述参数中的变化的影响，可变在第一输出信号(aicos(ω-φI))表示所述响应的microlever(M)的激励下的方式。 |
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