| 组合装置的光学显微镜和X-射线分析仪 |
| JP2006117516 2006-4-21 发明申请 |
| 2007-11-8 |
| 要解决的问题 : 以进行X-射线分析，而不需要该样品的移动或所述的对准一个分析该样品的伴随该移动物体的位置，作为以X-射线分析在分析检测到的位置由一个光学显微镜。溶液 : 通过使它可能以一种所述的光学显微镜的物镜之间的开关和一个X-射线发生器的一个在所述相同的X-射线分析仪的光学轴，初级X射线从X-射线发生器被暴露于一种样品与所述样品保持在所述相同的位置，同时从所述样品发出的特性X射线被用于X-射线检测该样品的分析，而不需要移动或一种分析对象的所述对准位置的伴随该移动该样品为到所述分析由所述的光学显微镜检测的位置。这种组合装置1包括一光学显微镜系统2和一个X-射线分析系统3，同时包括一个可旋转的旋转器5所述的显微镜系统2之间共享和所述分析系统3。版权 : (C)2008，inpit |
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