基于差分干涉对比度和/或表面等离子体辅助干涉的片上相位显微镜/光束轮廓仪
 
US11743581  2007-5-2  发明申请

2007-11-8
 
  一种差分干涉对比度(DIC)确定装置和方法,使用照明源,具有从照明源接收照明的一对两个孔的层,以及光检测器,以从通过所述一对两个孔的照明接收杨氏干涉。 另外,一种表面等离子体辅助的光流控显微镜和方法利用照明源,具有具有至少一个孔作为表面的层的流体通道,以及基于通过孔的照明接收信号的光检测器。 所述层是波纹的(例如,通过制造),并且所述波纹的参数优化了在所述光电检测器上接收的信号。
 
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