| 偏振干涉显微镜 |
| DE102006017327 2006-4-11 发明申请 |
| 2007-10-18 |
| 本发明涉及一种用于对物体(5)成像的偏振干涉显微镜(1)。 偏振干涉显微镜(1)包括光源(2)、照明光路(6)、成像光路(7)和物镜(4)。 照明光束路径(6)从光源(2)延伸到物体(5)。 成像光束路径(7)从对象(5)延伸到检测器或管(3)。 在所述照明光束路径(6)和/或所述成像光束路径(7)中设置有至少一个偏振装置(9)，通过所述至少一个偏振装置，相应的光束路径(6，7)的光能够被转换成可预定的偏振状态。 分析器装置(10)设置在成像光束路径(7)中。 在偏振装置(9)和检偏装置(10)之间提供双折射分量，通过该双折射分量，由偏振装置(9)偏振的光可以被分成具有不同偏振方向的两个分光束(13，14)。 该部件可以在两个分光束(13、14)之间产生分离。 本发明还分别涉及一种用于传统显微镜和传统偏振干涉显微镜的改装套件，以及一种用于对物体成像的方法。 为了实现干涉对比度的可变对比度，根据本发明的偏振干涉显微镜(1)的特征在于，所述构件具有液晶元件(11、21、23)，所述液晶元件以这样的方式形成，使得由此能够可变地设定两个分光束(13、14)之间的分裂的值。 |
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