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用于有效共焦激光显微镜的硅衬底上的氧化物层
US11614896 2006-12-21 发明申请
2007-10-11
在设置在硅晶片衬底上的聚合物阵列上执行共焦激光显微观察的方法, 所述方法包括以下步骤 : 提供具有顶面和底面的硅晶片衬底;用氧化物涂层涂覆所述硅晶片的顶面以提供氧化物涂覆的晶片;将多个探针共价偶联到所述涂覆的晶片的顶面以提供固定聚合物阵列;将所述固定聚合物阵列与多个标记配体杂交;以及使用共焦激光荧光显微镜分析一个或多个杂交配体以检测杂交。
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