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使用暗场显微镜测定纳米颗粒的数量浓度和粒度分布

US11393882 2006-3-31 发明申请

2007-10-4

本发明的实施例涉及使用暗场显微镜测定颗粒的数量浓度和尺寸分布。这些实施方案特别适用于同时测定尺寸低于4微米的颗粒的颗粒数浓度和尺寸分布。