| 扫描探针显微镜是具有悬垂结构能够以测量样品 |
| KR1020060096399 2006-9-29 发明授权 |
| 2007-9-17 |
| 目的 : 一种扫描探针显微镜能够测量的悬垂型关于所述表面是提供以准确地收集数据样本该样品通过准确地扫描所述的横向侧的一个端部通过一探针的尖端结构和以所述现有的显微镜直接利用该尖端的部件，构成 : 一扫描探针显微镜能够测量的悬垂型样品(200)是由一个第一的探针(100)，第一扫描器(310)，用于改变所述位置的所述第一一种直线上的探头，和第二扫描器(320)用于改变所述样品的位置上的一个平面，直线，其中所述第一探针是通过改变第一扫描器的位置是非垂直所述样品到所述的平面，其中所述位置是由第二改变扫描仪，kipo2007 |
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