| 用于对样品进行高空间分辨率检查的方法和显微镜 |
| US11623703 2007-1-16 发明申请 |
| 2007-9-6 |
| 一种用于样品的高空间分辨率检查的方法和显微镜，特别是激光扫描荧光显微镜，待检查样品(1)包括可从第一状态(Z1，A)重复转换成第二状态(Z2，B)的物质，第一和第二状态(Z1，A)； Z2， b)在至少一个光学性质上彼此不同， 包括以下步骤 : 首先使待记录样品区(P)中的物质进入第一状态(Z1)， a)，并且第二状态(Z2，b)由光信号(4)感应，空间上被限定的子区域被明确排除在要记录的样本区域(P)内，通过光信号(4)同时集中在多个焦点上，并且焦点被聚焦到样本(1)的不同位置，关于在任何所需方向上增加的分辨率和关于增加的成像速率来定义。 |
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