| 用于对样品进行高空间分辨率检查的方法和显微镜 |
| US11653446 2007-1-16 发明申请 |
| 2007-9-6 |
| 一种用于样品的高空间分辨率检查的方法和显微镜，特别是激光扫描荧光显微镜，待检查样品(1)包括可从第一状态(Z1，A)重复转换成第二状态(Z2，A)的物质，第一和第二状态(Z1，A)； Z2， b)在至少一个光学性质上彼此不同， 包括以下步骤 : 首先使待记录样品区域(P)中的物质进入第一状态(Z1，A)，并且借助于光信号(4)诱导第二状态(Z2，B)，所述光信号(4)在空间上被限定的子区域被明确排除在待记录样品区域(P)内，所述光信号(4)以具有至少一个强度零点(5)的截面轮廓的焦线(10)的形式提供，所述强度零点具有横向相邻的强度最大值(9)。 |
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