与空间光调制显微镜有关的设备和方法
 
US11499086  2006-8-4  发明申请

2007-8-16
 
  本发明涉及对接触样品和/或光检测器,例如用户眼睛,电荷耦合器件或摄像机的光进行特定控制的显微镜的设备和方法。 改进的控制包括对照射角度,光量和到达样品和/或检测器的光的位置的增强的,选择性的控制。 所述显微镜包括在所述显微镜的照明和/或检测光路中的一个或多个空间光调制器,所述空间光调制器位于所述物镜的孔径光阑的共轭像平面和所述样品的共轭像平面中的一个或两个处。
 
仿站