| 原子力显微镜分析的样品的方法 |
| KR1020060012074 2006-2-8 发明申请 |
| 2007-8-13 |
| 目的 : 一种用于分析的样品原子力显微镜方法被提供到的与位置对应一个十字光标和一探针，通过使所述十字光标的位置显示在屏幕的一个显示装置移动，构成 : 一个用于分析的样品原子力显微镜方法包括以下步骤 : 初始化的一个中央点的一横通过一显示装置的一屏幕显示的光标在所述原子力转动时显微镜和定位在所述起始点(0，0)，确定坐标值(X1，Y1)的一位置的一探针通过该屏幕，由于比较确定的对应关系的坐标值(X1，Y1)的所述探针与初始坐标值所述的十字光标，进行样品分析操作或执行所述样品分析通过移动该十字光标操作作为作为下降得多(X1，Y1)。kipo2007 |
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