| 扫描探针显微镜 |
| WOJP06320415 2006-10-12 发明申请 |
| 2007-6-28 |
| 一个扫描探针显微镜，其可以被用于稳定地用于一个扫描期间长时间甚至如果激励效率而变化。一悬臂(5)被激励，然后该悬臂(5)和一个样品被扫描的相对。一种双波分量检测电路(31)检测所述双所述悬臂的振动波分量的振幅(5)。作为一种integeral乘法分量幅值。所述的双波分量幅值是所述一种双波分量的幅值具有一个频率等于两个激励频率的次数。一个激励强度调整电路(33)控制励磁强度，以维持一恒定幅度的双波分量基于所检测的一种双波分量的幅度。 |
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